外標(biāo)校準(zhǔn)步驟：

1對(duì)每一欲分析的物質(zhì)。配制至少5個(gè)濃度水平的校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)。加一定體積的1個(gè)或數(shù)個(gè)貯備標(biāo)準(zhǔn)至容量瓶中，用適當(dāng)溶劑稀釋定容。外標(biāo)中的一個(gè)濃度應(yīng)當(dāng)接近但是要高于方法的檢測(cè)限。其它濃度應(yīng)相當(dāng)于實(shí)際樣品中預(yù)計(jì)的濃度范圈或者限定在檢測(cè)器的工作范圍。
2采取欲用于實(shí)際樣品的導(dǎo)至氣相色譜儀的進(jìn)樣技術(shù)。注射每一個(gè)校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)（如2～5μl注射樣，氣提及捕集等等）.將峰高或峰面積的響應(yīng)值對(duì)樣品注射量列表。此結(jié)果可用于繪制每一分析物的校準(zhǔn)曲線。對(duì)于用注射器將樣品導(dǎo)入氣相色譜儀的，也可用另一種方法，將響應(yīng)值和注射量的比率定為校正因子（CF），可以在每一標(biāo)準(zhǔn)濃度汁算每一分析物的含量。如果校正因子的百分相對(duì)標(biāo)準(zhǔn)偏差RSD%在工作范圍內(nèi)低于20%，則可以假定為通過(guò)原點(diǎn)的直線，校正因子的平均值可以用來(lái)代替校準(zhǔn)曲線。
*對(duì)于多響應(yīng)的農(nóng)藥／（PCBs），采用所有用于定量的色譜峰的總面積。
3必須在每個(gè)工作日用注射1個(gè)或數(shù)個(gè)校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)來(lái)檢查確定工作校準(zhǔn)曲線或校正因子。檢查的次數(shù)取決于檢測(cè)器。如ECD檢測(cè)器在亞納克范圍工作時(shí)，由于GC柱和樣品的影響較易使檢測(cè)器響應(yīng)值變化，因此需要更多次的檢查校準(zhǔn)曲線。FID檢測(cè)器靈敏度低得多，不需多檢查校正。如果任一分析物質(zhì)的響應(yīng)值和預(yù)計(jì)的響應(yīng)差別大于±15%，則必須對(duì)那種分析物質(zhì)繪制一新的校準(zhǔn)曲線。

  式中：Rl一*次分析的校正因子；R2一以后分析的校正因子。

內(nèi)標(biāo)校準(zhǔn)步驟：
1用此方法時(shí)，分析人員必須選擇一個(gè)或數(shù)個(gè)欲分析化合物的化學(xué)性質(zhì)相似的內(nèi)際物質(zhì)。分析人員必須進(jìn)一步證明內(nèi)標(biāo)物質(zhì)的測(cè)量不受方法或基體干擾的影響。由于這些限制，所以不可能推薦一種可用于所有樣品的內(nèi)標(biāo)物。
2加一定體積的一個(gè)或數(shù)個(gè)貯備溶液至容量瓶中配制至少5個(gè)濃度水平的各個(gè)欲分析物質(zhì)的校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)。對(duì)每一個(gè)校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)加已知的恒定量的1個(gè)或數(shù)個(gè)內(nèi)標(biāo)物質(zhì)。用適當(dāng)溶劑稀釋定容。其中一個(gè)標(biāo)準(zhǔn)的濃度應(yīng)接近但要大于方法的檢測(cè)限，其它濃度應(yīng)相當(dāng)于實(shí)際樣品的預(yù)計(jì)濃度范圍。
3用和實(shí)際樣品欲采用的相同的導(dǎo)入方法（如2～5μl注射量或氣捉及捕集法等等），注射每一個(gè)校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)。將峰高或峰面積響應(yīng)值對(duì)每一化合物或內(nèi)標(biāo)的濃度列表。按下式計(jì)算每一化合物的響應(yīng)因子（RF）：

  式中：As一待測(cè)分析物質(zhì)的響應(yīng)值；Ais一內(nèi)標(biāo)的響應(yīng)值；Cis一內(nèi)標(biāo)的濃度（μg／L）；Cs一待測(cè)分  析物質(zhì)的濃度（μg／L）。
如果RF值在工作范圍內(nèi)是恒定的（<20% RSD）。則可以假定RF位不變，RF的平均值可以用于計(jì)算。或者也可以將結(jié)果繪制響應(yīng)值比率（As／Ais）對(duì)RF位的校準(zhǔn)曲線。
4必須在每個(gè)工作日測(cè)量一個(gè)或數(shù)個(gè)校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)以檢查工作校準(zhǔn)曲線或RF值。檢查的次數(shù)取決于檢測(cè)器。如ECD檢測(cè)器，在亞納克級(jí)工作范圍時(shí)。由于GC柱和樣品的影響較容易使響應(yīng)值變化，因此需要比較多次的校準(zhǔn)。FID檢測(cè)器靈敏度很低，要求檢查的次數(shù)則可少些。如果任一分析物質(zhì)的響應(yīng)值和預(yù)計(jì)的響應(yīng)值的差別大于±15%，必須對(duì)該化合物繪制一新的校準(zhǔn)曲線。
5保留時(shí)間窗。
5.1建立保留時(shí)間窗之前，先確定GC系統(tǒng)是在*操作條件范圍內(nèi)。在整個(gè)72h過(guò)程中將所有單組分標(biāo)準(zhǔn)的混合物及多響應(yīng)物質(zhì)（如PCB）注射3次樣。在不到72h期間連續(xù)注射進(jìn)樣會(huì)使保留時(shí)間窗太密。
5.2計(jì)算每一單組分析標(biāo)準(zhǔn)的3次保留時(shí)間的標(biāo)準(zhǔn)偏差。對(duì)于多響應(yīng)物質(zhì)，從圖中選擇一個(gè)主要的色譜峰，計(jì)算該峰的3次保留時(shí)間的標(biāo)準(zhǔn)偏差。所選擇的色譜峰應(yīng)該完避免由于樣品中有降解和衰減而受到的損失。
5.2.1對(duì)每個(gè)標(biāo)準(zhǔn)加減3倍保留時(shí)間的標(biāo)準(zhǔn)偏差，用以限定保留時(shí)間窗，但是在色譜圖的解釋上。分析人員的經(jīng)驗(yàn)應(yīng)該占更重要的份量。對(duì)于多響應(yīng)物質(zhì)（如PCBs）。分析人員應(yīng)該用保留時(shí)間窗，但是首先應(yīng)依靠圖形識(shí)別。
5.2.2在某個(gè)標(biāo)準(zhǔn)的標(biāo)準(zhǔn)偏差為零的那些情況下，實(shí)驗(yàn)室必須換一洗脫相近的類似化合物的標(biāo)準(zhǔn)偏差建立有效的保留時(shí)間窗。
5.3實(shí)驗(yàn)室必須計(jì)算每一標(biāo)準(zhǔn)在每一根GC柱上的保留時(shí)間窗。無(wú)論何時(shí)安裝一根新的GC柱時(shí)，要重新計(jì)算保留時(shí)間窗。數(shù)據(jù)資料必須保留在實(shí)驗(yàn)室。